力旺與西門子聯手推出SRAM修復工具,應對先進AI SoC需求
【財訊快報/記者李純君報導】力旺電子(3529)今宣布,與西門子聯手推出突破性的SRAM修復工具。該解決方案將西門子的Tessent MemoryBIST軟體與eMemory的NeoFuse OTP整合,主要應對具高密度SRAM之先進AI SoC的需求。當今的AI晶片對於配備AI語言模型、資料處理器(DPU)和靜態隨機存取記憶體內運算(SRAM-based CIM)架構的需求日趨增加,然而,製程微縮及密度急劇增加對SRAM的製造、良率和可靠度帶來可觀的挑戰。隨著SRAM密度增加,故障位元發生機率也更高,因此,晶片內建的自動修復(built-in self-repair; BISR)技術和一次性可編程記憶體(OTP)在提升良率上就扮演著更重要的角色。
西門子專精於記憶體測試解決方案,Tessent MemoryBIST實現了片上記憶體全面自動化的全速測試、診斷、修復、調試和特性鑑定。而力旺則是在OTP在儲存故障位元方面發揮作用。此整合解決方案標榜OTP編程效率,並適用於各式SoC總線協議設計。與eFuse的區別在於,NeoFuse內建自我檢測機制,在不需增加多餘電路下,於部署後可持續進行自動檢測和修復。這項優勢對於車載應用等高階晶片至關重要。
「力旺的OTP通過了台積電N5、N5A和N4P的嚴格認證,具有良率、可靠度、面積和成本效益。西門子Tessent MemoryBIST與eMemory NeoFuse OTP的全面整合,支持AI晶片設計。」力旺資深業務開發副總盧俊宏表示。
「在全球 IC 市場向人工智慧技術的典範轉移過程中,需要創新的解決方案。」西門子數位設計創作平台Tessent資深副總裁暨總經理Ankur Gupta表示。「Tessent MemoryBIST與eMemory OTP的預整合方案有助於先進AI晶片開發商以低成本實現快速上市、高良率和可靠度。」