晶彩科導入AI 檢測MicroLED瑕疵

AI在工業製造的應用愈來愈廣,光學檢測也普遍導入AI應用,透過AI優秀的分類及檢出能力,大幅提高生產速度,並簡化設備需求。晶彩科技也透過AI物件偵測技術導入到MicroLED量測上,提供給客戶最簡單有效的解決方案,成為智慧製造的品質守護者。

晶彩科技透過AI物件偵測技術的導入,可即時檢測LED瑕疵,此外能以非常快的速度量測所有LED的偏移、旋轉,且憑藉著晶彩多年來的光學設計經驗,一般需要仰賴3D量測模組才能量測的LED發光面傾斜,也可直接透過晶彩科技自行開發的成像系統來取得,達成AI瑕疵檢測過程中同時完成了LED偏移量測、LED旋轉量測、LED傾斜量測,大幅提高生產速度,並簡化設備需求。

AI或是傳統演算法並沒有絕對的優劣之分。在當今少量多樣與客製化的趨勢之下,AI技術應用在背景複雜,製程變異大,或是瑕疵型態不固定的狀況下,將有更佳的應用空間。相對的,在大面積、製程固定一致,對速度要求嚴苛的場域,則非常適合傳統演算法,究竟採取何種方式,除了使用者的判斷之外,更是專業AOI廠商的智慧。晶彩科技公司展出攤位:南港展覽館一館4樓L526。

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