測試介面F4 大啖AI長線紅利

AI晶片需求爆發下,迎來實質的長線紅利,台廠包括穎崴(6515)、旺矽(6223)、中華精測(6510)及雍智(6683),累計營收均有旺盛年增表現,營運可望在未來市場成長趨勢下受惠。圖/本報資料照片
AI晶片需求爆發下,迎來實質的長線紅利,台廠包括穎崴(6515)、旺矽(6223)、中華精測(6510)及雍智(6683),累計營收均有旺盛年增表現,營運可望在未來市場成長趨勢下受惠。圖/本報資料照片

AI浪潮席捲全球,無論輝達的H100/B100系列GPU,或蘋果、特斯拉、亞馬遜、Google等自研AI加速晶片的需求暴增,都讓高效能運算(HPC)成為先進製程推進的核心動能。而在這場科技競賽中,不為大眾所熟知的測試介面產業正扮演至關重要的角色,並在AI晶片需求爆發下,迎來實質的長線紅利,台廠包括穎崴(6515)、旺矽(6223)、中華精測(6510)及雍智科技(6683),累計營收均有旺盛年增表現,營運可望在未來市場成長趨勢下受惠。

測試介面泛指連接晶圓與測試機台之間的探針卡(Probe Card)、測試座(Socket)、載板(Substrate)等關鍵零組件。全球測試介面市場規模雖然估值僅約30億~50億美元,相較晶圓代工、封測或設備動輒千億美元規模顯得明顯較小,但卻是AI供應鏈中不可或缺的一顆螺絲釘。

測試介面的特殊性在於其製程黏著度與定制化門檻。以探針卡為例,現今2.5D/3D封裝興起,AI晶片設計趨向高核心數、高頻寬、高功耗,進而衍生出更高針數、更小間距(pitch)、更大面積與更高電流的測試需求,這使得原本用於傳統邏輯IC的探針卡設計完全無法套用,因此,高端測試卡客製化需求快速攀升,也使得測試介面廠能在小市場中掌握高毛利。

與傳統應用相比,AI晶片研發週期更短、功能複雜度更高,導致每一批晶片測試次數倍增。尤其是企業版AI晶片(如資料中心GPU/NPU)採用先進製程,對於缺陷容忍率極低,測試階段從初期設計驗證(AST)、工程樣品(EVT)到量產良率控管,幾乎每階段都仰賴高規格探針卡進行精準檢測。

一片AI晶圓所需的探針卡,約為傳統邏輯IC的5倍以上,且生命週期短、更新快。這種高價值、短週期的特性,使測試介面廠商持續分享AI資本支出成長的成果。

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